Erlanger Berichte MikroelektronikUitgever: www.leb.eei.uni-erlangen.de/index.php |
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1. | Dirk Lewke Untersuchung und Minimierung lateraler Rissabweichungen beim Thermischen Laserstrahlseparieren Volume: 2018,1 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-5929-8, Mei 2018 Das Thermische Laserstrahlseparieren (TLS) ist eine auf Laser basierte Trenntechnologie für die Halbleiterindustrie, bei der durch thermisch induzierte mechanische Spannungen gezielt Risse durch Siliciumscheiben ... meer ... | 48,80 € | |
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2. | Andreas Hürner SiC-BIFET Ein bipolarer SiC-Feldeffekttransistor für das Mittelspannungsnetz Volume: 2017,1 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-5456-9, September 2017 Online-Publicatie (PDF) Diese Arbeit befasst sich schwerpunktmäßig mit der Erforschung und Bewertung der Durchlasseigenschaften von 10kV-SiC-BIFETs mit einer nominellen Sperrfestigkeit von 10kV. Hierzu wurden 10kV-SiC-p-BIFETs ... meer ... | 48,80 € | |
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3. | Stefan Johannes Noll Prozessabhängigkeit der Feldeffektbeweglichkeit und Stabilität der Einsatzspannung von 4H-SiC MOS Transistoren Volume: 2016,3 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-4872-8, November 2016 Neue Halbleitermaterialien wie Siliciumcarbid (SiC) haben das Potential, Verluste in leistungselektronischen Systemen stark zu verringern. Bei Siliciumcarbid bestehen jedoch noch die Herausforderungen, ... meer ... | 48,80 € | |
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4. | Sebastian Polster Nanopartikuläre ZnO-Schichten für Dünnschichttransistoren Volume: 2016,2 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-4377-8, April 2016 Online-Publicatie (PDF) Gedruckte Elektronik stellt für bestimmte Anwendungen eine interessante Alternative zur konventionellen Halbleitertechnologie dar. Speziell für Massenartikel, bei welchen reduzierte Anforderungen an die ... meer ... | 45,80 € | |
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5. | Christian Tobias Banzhaf Entwicklung und Charakterisierung von Trench-Gate-Strukturen für 4H-SiC Leistungs-MOSFETs Volume: 2016,1 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-4372-3, April 2016 Das Ziel dieser experimentellen Arbeit ist die prozesstechnologische Umsetzung einer Trench-MOSFET-Technologie auf der Silicium-Seite von 4H-Siliciumcarbid sowie deren elektrische Charakterisierung und ... meer ... | 49,80 € | |
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6. | Christian Strenger Herstellung und Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldeffekttransistoren auf 4H-Siliciumcarbid Volume: 2015,2 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-3495-0, Maart 2015 Die vorliegende Arbeit befasst sich mit der Herstellung und der Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldefekttransistoren auf der Siliciumseite von 4H-Siliciumcarbid (4H-SiC). ... meer ... | 48,80 € | |
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7. | Tim Behrens Kupfer-Metallisierung für Siliciumcarbid-Leistungshalbleiter zur Steigerung der Lebensdauer Volume: 2015,1 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-3357-1, Februari 2015 Online-Publicatie (PDF) Neue Halbleiter-Generationen mit größerer Bandlücke, wie beispielsweise Siliciumcarbid (SiC), haben das Potenzial die Leistungsdichte zu steigern und können bei erhöhten Temperaturen eingesetzt werden. ... meer ... | 48,80 € | |
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8. | Martin Le-Huu Entwicklung und Charakterisierung von integrierten Schaltungen auf Siliciumcarbid für den Betrieb bei hohen Temperaturen Volume: 2011,5 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-0614-8, December 2011 Elektronische Schaltungen aus Siliciumcarbid (SiC) können aufgrund der großen Bandlücke des Materials bei Temperaturen oberhalb von 300°C betrieben werden. Dadurch erschließen sich Anwendungen, die ... meer ... | 45,80 € | |
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9. | Matthias Knörr Verbinden von Leistungshalbleiterbauelementen durch Sintern von nanoskaligen Silberpartikeln Volume: 2011,4 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-0352-9, September 2011 Online-Publicatie (PDF) meer ... | 49,80 € | |
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10. | Martin Schellenberger Modulares Steuerungskonzept für integrierte Messtechnik in der Halbleiterfertigung am Beispiel einer Mehrkammerprozessanlage Volume: 2011,3 Reeks: Erlanger Berichte Mikroelektronik 978-3-8440-0264-5, Augustus 2011 Online-Publicatie (PDF) Die vorliegende Arbeit beschreibt die Entwicklung eines neuen, modularen Steuerungskonzepts für die Integration und Steuerung von Messtechnik in der Halbleiterfertigung. Der wesentliche Anwendungsbereich ... meer ... | 48,80 € |
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