Franziska Theresa Brändle

Polarization-Sensitive Speckle Interferometer for Roughness Measurement


voorkant	achterkant

ISBN:

978-3-8440-9032-1

Reeks:

Reports on Measurement and Sensor Systems
Uitgever: Prof. Dr.-Ing. Alexander W. Koch
München

Trefwoorden:

Speckle Interferometry; Surface Analysis; Roughness Measurement; Non-Contact Method; Depolarization

Soort publicatie:

Dissertatie

Taal:

Engels

Pagina's:

182 pagina's

Gewicht:

243 g

Formaat:

21 x 14,8 cm

Bindung:

Softcover

Prijs:

48,80 € / 61,10 SFr

Verschijningsdatum:

April 2023

Kopen:

Download:

Beschikbare online documenten voor deze titel:

U heeft Adobe Reader, nodig, om deze bestanden te kunnen bekijken. Hier vindt u ondersteuning en informatie, bij het downloaden van PDF-bestanden.

Let u er a.u.b. op dat de online-bestanden niet drukbaar zijn.


	Document		Document
	Soort bestand		PDF
	Kosten		36,60 EUR
	Acties		Tonen en kopen van het bestand - 2,9 MB (3008775 Byte)
	Acties		Kopen en downloaden van het bestand - 2,9 MB (3008775 Byte)


	Document		Inhoudsopgave
	Soort bestand		PDF
	Kosten		gratis
	Acties		Het bestand tonen - 250 kB (255651 Byte)
	Acties		downloaden van het bestand - 250 kB (255651 Byte)

Gebruikersinstellingen voor geregistreerde online-bezoekers

Hier kunt u uw adresgegevens aanpassen en uw documenten inzien.

Gebruiker:	niet aangemeld
Acties:	aanmelden/registreren Paswoord vergeten?

Aanbevelen:

Wilt u dit boek aanbevelen?

Recensie-exemplaar

Bestelling van een recensie-exemplaar.

Verlinking

Wilt u een link hebben van uw publicatie met onze online catalogus? Klik hier.

Samenvatting

The goal of this work is to develop a novel interferometric method for roughness measurement. Contrary to conventional approaches, the depolarization of the scattered light by the rough sample is considered, leading to a more accurate estimation of the roughness in the sub-wavelength domain and at the same time non-destructive and fast measurements. Compared to earlier works, the more general theory allows the application to other optical devices where depolarization of light occurs.

Ziel dieser Arbeit ist, eine neue interferometrische Methode zur Rauheitsmessung zu entwickeln. Im Gegensatz zu herkömmlichen Ansätzen wird die Depolarisation des Streulichts durch die raue Probe berücksichtigt, was zu einer genaueren Schätzung der Rauheit im Sub-Wellenlängenbereich und zu zerstörungsfreien und schnellen Messungen führt. Verglichen mit früheren Arbeiten erlaubt die allgemeinere Theorie die Anwendung auf weitere optische Geräte, bei denen eine Depolarisierung des Lichts auftritt.