• Home
  • Over ons
  • Uw publicatie
  • Catalogus
  • Recensies
  • Help
  • Account
  • Contact / Impressum
Dissertatie - Publicatiereeks - Congresbundel - Vakboek - Collegedictaat/Studieboek - CD-Rom/DVD - Online Publicatie
Winkelmandje
Catalogus : Details

Max Walter

Application-oriented evaluation of fault-tolerant systems

ISBN:978-3-8322-8227-1
Reeks:Research Report Series Lehrstuhl für Rechnertechnik und Rechnerorganisation Technische Universität München
Uitgever: Prof. Dr. A. Bode
München
Volume:34
Trefwoorden:dependability evaluation; reliability; high-availability; fault tree; reliability block diagram; Markov chain; Petri net; process algebra
Soort publicatie:Habilitatie
Taal:Engels
Pagina's:188 pagina's
Gewicht:279 g
Formaat:21 x 14,8 cm
Bindung:Softcover
Prijs:48,80 € / 97,60 SFr
Verschijningsdatum:Juni 2009
Kopen:
  » plus verzendkosten
Download:

Beschikbare online documenten voor deze titel:

U heeft Adobe Reader, nodig, om deze bestanden te kunnen bekijken. Hier vindt u ondersteuning en informatie, bij het downloaden van PDF-bestanden.

Let u er a.u.b. op dat de online-bestanden niet drukbaar zijn.

 
 DocumentSamenvatting 
 Soort bestandPDF 
 Kostengratis 
 ActiesHet bestand tonen - 63 kB (64866 Byte) 
 Actiesdownloaden van het bestand - 63 kB (64866 Byte) 
     
 
 DocumentDocument 
 Soort bestandPDF 
 Kosten36,60 EUR 
 ActiesTonen en kopen van het bestand - 1,1 MB (1168653 Byte) 
 ActiesKopen en downloaden van het bestand - 1,1 MB (1168653 Byte) 
     
 
 DocumentInhoudsopgave 
 Soort bestandPDF 
 Kostengratis 
 ActiesHet bestand tonen - 132 kB (134781 Byte) 
 Actiesdownloaden van het bestand - 132 kB (134781 Byte) 
     

Gebruikersinstellingen voor geregistreerde online-bezoekers

Hier kunt u uw adresgegevens aanpassen en uw documenten inzien.

Gebruiker:  niet aangemeld
Acties:  aanmelden/registreren
 Paswoord vergeten?
Aanbevelen:Wilt u dit boek aanbevelen?
Recensie-exemplaarBestelling van een recensie-exemplaar.
VerlinkingWilt u een link hebben van uw publicatie met onze online catalogus? Klik hier.